LEEM-3 apparaat voor het in kaart brengen van elektrische velden

Korte beschrijving:

In technische technologie is het vaak nodig om de elektrische veldverdeling van het elektrodensysteem te kennen om de bewegingswet van elektronen of geladen deeltjes in het elektrische veld te bestuderen.Om bijvoorbeeld de focussering en afbuiging van de elektronenbundel in de oscilloscoopbuis te bestuderen, is het noodzakelijk om de verdeling van het elektrische veld van de elektrode in de oscilloscoopbuis te kennen.In de elektronenbuis moeten we de invloed van de introductie van nieuwe elektroden op de beweging van elektronen bestuderen, en we moeten ook de verdeling van het elektrische veld kennen.Over het algemeen kunnen analytische methoden en simulatie-experimenten worden gebruikt om de verdeling van het elektrische veld te achterhalen.Maar slechts in een paar eenvoudige gevallen kan de elektrische veldverdeling worden verkregen door middel van een analytische methode.Voor het algemene of complexe elektrodesysteem wordt dit meestal bepaald door een simulatie-experiment.Het nadeel van de simulatie-experimentmethode is dat de precisie niet hoog is, maar voor het algemene technische ontwerp kan het aan de vereisten voldoen.