LEEM-3 apparaat voor het in kaart brengen van elektrische velden

Korte beschrijving:

In de technische wetenschappen is het vaak nodig om de elektrische veldverdeling van een elektrodesysteem te kennen om de bewegingswetten van elektronen of geladen deeltjes in een elektrisch veld te bestuderen. Om bijvoorbeeld de focussering en afbuiging van een elektronenbundel in een oscilloscoop te onderzoeken, is het noodzakelijk om de elektrische veldverdeling van de elektroden in de oscilloscoopbuis te kennen. Ook om de invloed van de introductie van nieuwe elektroden op de beweging van elektronen in een elektronenbuis te bestuderen, is de elektrische veldverdeling van belang. Over het algemeen kunnen zowel analytische methoden als simulatie-experimenten worden gebruikt om de elektrische veldverdeling te bepalen. Echter, slechts in enkele eenvoudige gevallen kan de elektrische veldverdeling met een analytische methode worden verkregen. Voor algemene of complexe elektrodesystemen wordt deze doorgaans bepaald door middel van simulatie-experimenten. Het nadeel van simulatie-experimenten is de beperkte nauwkeurigheid, maar voor algemene technische ontwerpen voldoet deze methode wel aan de eisen.