LADP-7 Integrated Experimental System of Faraday and Zeeman Effects Featured Image

LADP-7 geïntegreerd experimenteel systeem van Faraday- en Zeeman-effecten

Korte beschrijving:

Product detail

Productlabels

Faraday-effect en Zeeman-effect uitgebreid experimenteel instrument is een multifunctioneel en multi-meet experimenteel leerinstrument dat twee soorten experimentele effecten redelijk integreert. Met dit instrument kan de conversiemeting van het Faraday-effect en het Zeeman-effect worden voltooid en kunnen de kenmerken van magneto-optische interactie worden geleerd. Het instrument kan worden gebruikt bij het onderwijzen van optica en moderne fysica-experimenten aan hogescholen en universiteiten, maar ook bij het onderzoek en de toepassing van meetmateriaaleigenschappen, spectra en magneto-optische effecten.

Experimenten

1. Observeer het Zeeman-effect en begrijp atomair magnetisch moment en ruimtelijke kwantisering

2. Bekijk de splitsing en de polarisatie van een atoomspectraallijn van Mercury bij 546,1 nm

3. Bereken de verhouding tussen lading en massa van elektronen op basis van de Zeeman-splitsingshoeveelheid

4. Observeer het Zeeman-effect op andere Mercury-spectraallijnen (bijv. 577 nm, 436 nm en 404 nm) met optionele filters

5. Leer hoe u een Fabry-Perot-etalon kunt aanpassen en een CCD-apparaat in spectroscopie kunt toepassen

6. Meet de magnetische veldsterkte met een Teslameter en bepaal de magnetische veldverdeling

7. Observeer het Faraday-effect en meet de Verdet-constante met behulp van de lichtuitdovingsmethode

Specificaties

Item	Specificaties
Elektromagneet	B: ~ 1300 mT; poolafstand: 8 mm; pool-dia: 30 mm: axiale opening: 3 mm
Stroomvoorziening	5 A / 30 V (max)
Diode laser	> 2,5 mW @ 650 nm; lineair gepolariseerd
Etalon	dia: 40 mm; L (lucht) = 2 mm; doorlaatband:> 100 nm; R = 95%; vlakheid: <λ / 30
Teslameter	bereik: 0-1999 mT; resolutie: 1 mT
Potlood kwiklamp	emitter diameter: 6,5 mm; vermogen: 3 W.
Interferentie optisch filter	CWL: 546,1 nm; halve doorlaatband: 8 nm; opening: 20 mm
Directe afleesmicroscoop	vergroting: 20 X; bereik: 8 mm; resolutie: 0,01 mm
Lenzen	collimeren: dia 34 mm; beeldvorming: dia 30 mm, f = 157 mm

Onderdelen lijst

Omschrijving	Aantal
Hoofdeenheid	1
Diodelaser met voeding	1 set
Magneto-optisch materiaalmonster	1
Potlood kwiklamp	1
Aanpassingsarm kwiklamp	1
Milli-Teslameter-sonde	1
Mechanische rail	1
Drager glijbaan	6
Voeding van elektromagneet	1
Elektromagneet	1
Condenserende lens met vatting	1
Interferentiefilter op 546 nm	1
FP Etalon	1
Polarisator met schaalschijf	1
Kwartgolfplaat met houder	1
Imaging-lens met vatting	1
Directe afleesmicroscoop	1
Fotodetector	1
Stroomdraad	3
CCD, USB-interface en software	1 set (optie 1)
Interferentiefilters met montage op 577 en 435 nm	1 set (optie 2)