LADP-7 Geïntegreerd experimenteel systeem van Faraday- en Zeeman-effecten
experimenten
1. Observeer het Zeeman-effect en begrijp het atomair magnetisch moment en ruimtelijke kwantisatie
2. Observeer de splitsing en de polarisatie van een atomaire spectraallijn van Mercurius bij 546,1 nm
3. Bereken de elektronenlading-massaverhouding op basis van de Zeeman-splitsingshoeveelheid
4. Observeer het Zeeman-effect bij andere Mercury-spectraallijnen (bijv. 577 nm, 436 nm en 404 nm) met optionele filters
5. Leer hoe u een Fabry-Perot etalon afstelt en een CCD-apparaat toepast in spectroscopie
6. Meet de magnetische veldintensiteit met behulp van een Teslameter en bepaal de magnetische veldverdeling
7. Observeer het Faraday-effect en meet de constante van Verdet met behulp van de lichtuitdovingsmethode
Specificaties:
Item | Specificaties: |
Elektromagneet | B: ~1300 mT;poolafstand: 8 mm;pooldiameter: 30 mm: axiale opening: 3 mm |
Stroomvoorziening | 5 A/30 V (maximaal) |
Diodelaser | > 2,5 mW bij 650 nm;lineair gepolariseerd |
Etalon | diameter: 40 mm;L (lucht)= 2 mm;doorlaatband:> 100 nm;R=95%;vlakheid:< λ/30 |
Teslameter | bereik: 0-1999 mT;resolutie: 1 mT |
Potlood kwiklamp | zenderdiameter: 6,5 mm;vermogen: 3 W |
Optisch interferentiefilter | CWL: 546,1 nm;halve doorlaatband: 8 nm;diafragma: 20 mm |
Directe leesmicroscoop | vergroting: 20 X;bereik: 8 mm;resolutie: 0,01 mm |
Lenzen | collimeren: dia 34 mm;beeldvorming: dia 30 mm, f=157 mm |
Onderdelen lijst
Beschrijving | aantal |
Hoofdeenheid | 1 |
Diodelaser met voeding | 1 set |
Magneto-optisch materiaalmonster | 1 |
Kwiklamp in potlood | 1 |
Mercury-lampverstelarm | 1 |
Milli-Teslameter-sonde | 1 |
Mechanische rail | 1 |
Drager Slide | 6 |
Voeding van Elektromagneet | 1 |
Elektromagneet | 1 |
Condenserende lens met montage | 1 |
Interferentiefilter bij 546 nm | 1 |
FP Etalon | 1 |
Polarisator met schaalschijf | 1 |
Kwartgolfplaat met bevestiging | 1 |
Beeldlens met houder | 1 |
Directe aflezing Microscoop | 1 |
Foto Detector | 1 |
Stroomdraad | 3 |
CCD, USB-interface en software | 1 set (optie 1) |
Interferentiefilters met montage op 577 & 435 nm | 1 set (optie 2) |