LADP-7 Geïntegreerd experimenteel systeem van Faraday- en Zeeman-effecten
Experimenten
1. Observeer het Zeeman-effect en begrijp het atomaire magnetische moment en ruimtelijke kwantificering
2. Observeer de splitsing en de polarisatie van een kwik-atomaire spectraallijn bij 546,1 nm
3. Bereken de lading-massaverhouding van het elektron op basis van de Zeeman-splitsingshoeveelheid
4. Observeer het Zeeman-effect bij andere spectraallijnen van Mercurius (bijv. 577 nm, 436 nm en 404 nm) met optionele filters
5. Leer hoe je een Fabry-Perot-etalon kunt aanpassen en een CCD-apparaat kunt gebruiken in spectroscopie
6. Meet de sterkte van het magnetische veld met een Teslameter en bepaal de verdeling van het magnetische veld
7. Observeer het Faraday-effect en meet de Verdet-constante met behulp van de lichtuitdovingsmethode
Specificaties
Item | Specificaties |
Elektromagneet | B: ~1400 mT; poolafstand: 8 mm; pooldiameter: 30 mm; axiale opening: 3 mm |
Voeding | 5 A/30 V (maximaal) |
Diodelaser | > 2,5 mW bij 650 nm; lineair gepolariseerd |
Etalon | dia: 40 mm; L (lucht) = 2 mm; doorlaatband:> 100 nm; R = 95%; vlakheid: < λ/30 |
Teslameter | bereik: 0-1999 mT; resolutie: 1 mT |
Potlood kwiklamp | emitterdiameter: 6,5 mm; vermogen: 3 W |
Interferentie optisch filter | CWL: 546,1 nm; halfdoorlaatband: 8 nm; opening: 20 mm |
Direct leesmicroscoop | vergroting: 20 X; bereik: 8 mm; resolutie: 0,01 mm |
Lenzen | collimerend: dia 34 mm; beeldvorming: dia 30 mm, f=157 mm |
Onderdelenlijst
Beschrijving | Aantal |
Hoofdeenheid | 1 |
Diodelaser met voeding | 1 set |
Magneto-optisch materiaalmonster | 1 |
Potlood Kwiklamp | 1 |
Kwiklamp-afstelarm | 1 |
Milli-Teslameter-sonde | 1 |
Mechanische rail | 1 |
Draagschuif | 6 |
Voeding van elektromagneet | 1 |
Elektromagneet | 1 |
Condensatorlens met vatting | 1 |
Interferentiefilter bij 546 nm | 1 |
FP Etalon | 1 |
Polarisator met schaalschijf | 1 |
Kwartgolfplaat met houder | 1 |
Beeldlens met vatting | 1 |
Direct afleesbare microscoop | 1 |
Fotodetector | 1 |
Stroomkabel | 3 |
CCD, USB-interface en software | 1 set (optie 1) |
Interferentiefilters met montage op 577 en 435 nm | 1 set (optie 2) |